Microscopia Elettronica a Scansione con annessa microsonda EDS

Microscopia Elettronica a Scansione con annessa microsonda EDS

La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) consente un’analisi morfologica del campione ad ingrandimenti molto elevati (fino a 200000x).

Lo strumento è in grado di lavorare a pressioni variabili, permettendo anche l’osservazione di materiali nano/micrometrici poco conduttivi, come il particolato atmosferico o campioni biologici. Inoltre, utilizzando la sonda EDS abbinata si possono effettuare analisi chimiche puntuali o areali sui campioni, ottenendo informazioni di composizione chimica quali/quantitativa.